1 |
Jr |
<р09град
Фиг. 12. As (ф0) и Ар (ф0) для той же пленки, что и на фиг. 10.
Фиг. 13. Чг(d) при фиксированном угле падения (<ро = 60°).
/ — пленка алюминия на стекле (л=1,30, fe=*7.11, л5=1,5, Л.—6500 А); 2 —умеренно отра - жающая металлическая пленка на стекле (п=2,26, й=»1,77. ns = 1,5, Я=5500 А); 3 —уме ренно отражающая металлическая пленка на алюминиевой подложке (л = 2,26, fc=l,77, (1^.=0,85. ks = 6, Я.=5500 А.).
металл. На фиг. 13 и 14 нанесена зависимость ¥ и Д от толщины пленки при фиксированном угле падения ф0=60°. Три кривые на каждой фигуре представляют следующие ситуации:
1) алюминиевая пленка (п = |
1,30, А=7,11) |
на стекле |
(/г8= 1,5) |
||||||
при |
%— 6500 А; |
2) |
умеренно |
отражающий |
металл |
(п = 2,26, |
|||
k = |
1,77) на стекле |
(л« — 1,5) |
при \ = 5500А; |
3) умеренно от |
|||||
ражающий металл на алюминиевой подложке |
(ns — 0,85, ka= |
||||||||
= 6) |
при К — 5500 А. |
|
|
|
|
достигает мини |
|||
Из кривых / |
и 2 на фиг. 13 видно, что 'ЧР(rf) |
||||||||
мума при очень малых значениях d. [d ~ \ А в случае |
1) и d ~ |
||||||||
~ 2 0 А |
в случае |
2)]. Уже |
это |
указывает на то, что уравнения |
|||||
Друде, |
предсказывающие |
линейную зависимость Ч1, |
от d, не |
||||||
справедливы даже для очень тонких пленок. Другим важным фактом является сравнительно быстрое изменение Ч*(d) для
очень тонких пленок [по крайней мере в примерах 1) и 2)].
Фиг. 14. A(d) при фиксированном угле падения (<р<> = 60°).
Кривые 1, 2 и 3 соответствуют тем же ситуациям, что и на фиг. 13.
В противоположность этим результатам можно заметить, что кривая 3 описывает практически линейное изменение 'F(d), по
крайней мере до d = 200 А. Этот результат является довольно общим и показывает, что уравнение Друде во многих случаях можно применять к тонким металлическим пленкам на метал лической подложке и нельзя применять в случае стеклянной и вообще непоглощающей подложки.
Из фиг. 14 видно, что такие же утверждения относительно применимости уравнений Друде можно сделать для A(rf). Кри вая / свидетельствует о монотонном изменении Д (d) для алю миния, тогда как кривые 2 и 3 имеют экстремумы соответствен
но при d « 70 А и d > 200 А. При малой толщине Д очень бы стро меняется с ростом d (по крайней мере в случае кривых /
и 2). Это означает, что эллипсометрия является весьма чувстви
тельным методом исследования очень тонких металлических пленок на стекле.
IV. ОЧЕНЬ ТОНКИЕ ПЛЕНКИ
I. ОТРАЖЕНИЕ И ПРОПУСКАНИЕ
Рассмотрим теперь ситуацию, когда металлическая пленка является очень тонкой, т. е. ее толщина очень мала по сравне нию с длиной волны падающего света (d/A,<C 1). Тогда можно разложить все величины по степеням параметра = 2лd/X и
ограничиться членами второго порядка. На самом деле усло виями применимости этого приближения являются неравенства nt| 1 и kr\ 1, более жесткие, чем т] <SC1, особенно в инфра красной области. Молено показать, что при этих условиях R, R' и Т принимают вид
где Л0, Аи ... , В2 зависят от показателей преломления различ
ных сред и от угла падения для первой среды.
а. s-поляризация. 1) Однородные пленки. Выражения для коэффициентов Ai и Bi имеют следующий вид:
Важно отметить, что Az = В2. Из этого вытекает интересное
следствие, впервые замеченное Уолтером [12] для случая нор мального падения. Если А = I — R — Т и А' = 1 — R' — Т суть
коэффициенты поглощения пленки, то
(1 - R's - ТшЖ 1- R s - T s ) = A s / A s = Ys/Yo .
Таким образом, в случае очень тонкой пленки коэффиценты Rs, Rs и Ts при заданном угле падения не являются независи мыми. Если Ra и Та уже известны, то измерение R's не может
дать ничего нового.
Другим интересным результатом является зависимость Rs, Rs и Ts от угла падения ср0 для данной пленки при фикси
рованной длине волны. Легко показать, что
4У0У,
(Ys + Ур)8 + а (У* + Ур) + Ь '
где а и b — постоянные, характеризующие слой. Более точно,
а = 2e2r|, |
Ь= [е* + е$ — (п\ + /ф е, + /# £ ] г\2. |
(3) |
Таким образом, зависимость Rs, /?£ и Ts от угла падения
для металлической пленки при фиксированной длине волны определяется всего двумя параметрами. Этими параметрами являются а и Ь или (если выразить их через е й d) в2Г| и (ei —
— «о) (8i — ns) т12, ® случае очень тонких пленок, когда можно
пренебречь членами второго порядка, единственная величина, которая входит в Rs, Rs и Ts, есть ег^.
Из формул (2) следует, что из Ra и Та можно построить два
инварианта относительно изменения <ро. Эти инварианты имеют вид
а = 2Г,(А,1Т,), 6 = F , [ ( i ' 0+ r ,) R J+ r „ - y ,] /J 'I) + n ! - /& (4)
Проверим соотношения (3) и (4). Мы вычислили а и b для пленки Аи (п = 1,43, k = 1,12, ns — 1,44, d = l0 0 К, Я=2000А). Формулы (3) дают а = 2 х 1,087, Ь= 1,244. В соотношения (4) мы подставили точные значения Rs и Ts, а не те, что получаются
из (2). В таблице приведены для различных значений q?0 вели чины а и Ь, которые не являются точными постоянными. В этом случае, несмотря на то что d/X = 0,05, относительная ошибка,
возникающая при использовании первого из соотношений (4), достигает 7%. что обычно гораздо больше экспериментальных ошибок при определении R3 и Та.
Таблица
ф® |
а!2 |
ъ |
5 |
1,1719 |
1,092 |
15 |
1,1716 |
1,096 |
25 |
1,1710 |
1,103 |
35 |
1,1701 |
1,113 |
45 |
1,1691 |
1,125 |
55 |
1,1681 |
1,137 |
65 |
1,1671 |
1,148 |
75 |
1,1661 |
1,158 |
85 |
1,1662 |
1,160 |
Теперь приведем выражение для Ra, справедливое в случае
скользящего падения. Полагая <р0 = (я/2) — а, можно показать, что в первом порядке по малой величине а
/?5 = ( 1 - * ) /( 1 + Х ) ,
где
Х = п0[2(п2 — п*)'Ь + а]аj[n2 - п20 + а(п2 — п20)'<*+ Ъ].