Материал: Физика тонких пленок. Современное состояние исследований и технические применения. Т. 6

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

ваются» в окисел и заметно влияют на его свойства. Причина, по которой такое влияние разбавленных электролитов не было обнаружено до появления работы Рэндалла и сотр. [28], кроется в том, что емкость С системы в процессе формирования пленки при постоянных плотности тока J и температуре для данного потенциала V принимает такое значение, что величина VC

остается постоянной, не зависящей от электролита. Эта взаим­ ная связь между диэлектрической проницаемостью и ионной проводимостью, обсуждаемая в разд. III. 13, безусловно крайне важна для теории.

Величина TI < 1 означает потерю заряда на побочные реак­ ции, например на выделение кислорода или на окисление дру­ гих веществ, присутствующих в электролите. В случае тантала т] < 1 является обычно признаком дефектов подложки — цара­

пин или включений. Амсель и сотр. [30] подтвердили недавно, что «потери» тока на побочные реакции обычно составляют <0,1% . Это было показано с использованием окислительно­ восстановительной пары Fe2+/Fe3+ и обратимого платинового

электрода для детектирования окисления. Оказалось, что введе­ ние в электролит окислительно-восстановительной пары не влияет на величину ц, если не считать очень тонких пленок, че­ рез которые в ее присутствии осуществляется туннельный пере­ нос. В более ранней работе [31] методами полярографии и хи­ мического анализа было обнаружено, что выделение кислорода при электролитическом окислении ничтожно. Перенос заряда в пленках может быть обусловлен присутствием анионов. Эф­ фекты протонного переноса в окислах играют существенную роль в процессах катодной поляризации [32—34].

Экспериментальные данные, представленные на фиг. 2, по­ казывают, что заряд, необходимый для образования окисла тан­ тала данной оптической толщины в разбавленной серной кис­ лоте, слабо зависит от температуры и плотности тока (изме­ няется на величину, меньшую 1% в исследованном интервале

экспериментальных параметров). В более концентрированном электролите для получения данной плотности тока требуется более высокое поле, а заданная оптическая толщина окисла до­ стигается при значительно меньших количествах протекшего за­ ряда [35].

Поскольку свойства пленок зависят от природы электролита даже в сильно разбавленных растворах, в практических целях оказывается очень важным выбрать наилучший электролит (хотя тантал значительно менее чувствителен к действию элек­ тролита, чем алюминий). По этому вопросу имеется лишь не­ значительное число публикаций, к тому же в большинстве ра­ бот использовались нестабильные пленки, полученные катодным распылением. Для танталовых RC-схем обычно применяется

разбавленная лимонная [17, 20] или разбавленная фосфорная кислота (см., например, [18]). Последний электролит предпоч­ тительнее для МОП-систем на тантале, поскольку в этом слу­ чае пленки отличаются пониженной ионной проводимостью [28]. Что касается пленок А120 3, то в этом электролите они полу­

чаются существенно менее гидратированными [28]. Как показали

 

 

Фиг. 2. Количество электри­

 

 

чества Q (на единицу поверхно­

 

 

сти),

необходимое

для образо­

 

 

вания АОП

на тантале*толщи­

 

 

ной,

соответствующей

интерфе­

 

 

ренции во втором порядке при

 

 

X =

3500 А

[35].

 

 

 

 

а — для различных концентраций

 

 

H3SO4; б — для 0,2 н. H2SO4; / — плот­

 

 

ность

тока

при

анодировании;

 

 

Т — температура; W— концентрация

 

 

H2SO4 (вес. %).

 

 

Г,°С

 

 

 

 

 

 

 

результаты работы [36], при

изготовлении

конденсаторов Та —

Та20 5— Ni *) на массивном

химически

полированном

тантале

горячий 40%-ный раствор H2SO4 дает лучшие результаты, чем

холодная разбавленная кислота,

что,

по-видимому,

связано

с растворяющим действием состава.

 

 

 

 

 

 

При постоянной плотности тока

/ напряжение линейно рас­

тет с увеличением толщины. В случае тантала при постоянных плотности тока и температуре до сих пор не обнаружено изме­ нений среднего электрического поля Е в окисной пленке с уве­

личением ее толщины D, несмотря на очень высокую точность некоторых экспериментов [24, 37]. Скорость увеличения напря­ жения V определяется выражением

(dVldt)j, т= (dV/dD),' т(dDldt)j, г = EJXK,

(2)

где х — «константа», значение которой определяется с помощью соотношения (1), а Т — температура. Поскольку в первом при­

*) Здесь Ni — никелевое покрытие, полученное методом химического вос­ становления. — Прим, перев.

ближении Е зависит от / по закону Е = (l/B )lg (///0), то ско­

рость роста напряжения определяется в основном величиной /, причем эта зависимость почти линейна. В случае тантала [39], ниобия [40] и некоторых других металлов для любого напряже­ ния при известных / и Т можно, пользуясь опубликованными данными, провести расчет величины Е, а следовательно, и D

при условии, что электролит слабо впитывается пленками. Имеются экспериментальные данные по росту окисных пленок в более концентрированных серной [35] и фосфорной кислотах.

Поскольку числа переноса ионов металла') и количество примесей, попавших в пленку из электролита, зависят как от плотности тока, так и от электрического поля в пленке, можно ожидать, что структура пленок, сформированных в электроли­ тических растворах, содержащих «активные» примеси, будет сильно зависеть от «токовой» предыстории пленки. В настоящее время неизвестна подвижность примесей, встраивающихся в пленку из электролита, и поэтому неясно, как зависит конечное состояние пленок от плотности тока при их формировании. По­ добные процессы наиболее ярко должны проявляться при ис­ следовании кинетических явлений, сопровождающих рост пле­ нок. Кинетические методы в данном случае предпочтительней, поскольку формирование пленок в стационарных условиях при

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица 1

 

Сравнение свойств АОП тантала, полученных в 0,23 н.

 

растворе Н3Р 0 4 при 25 “С в различных режимах,

 

 

 

на конечной стадии анодирования [38]1 >

 

 

 

Принятые коэффициенты

 

 

Общая толщина

 

 

преломления

 

 

Отношение тол­

пленки, А2)

№ опыта

 

 

 

 

 

щины внешнего

 

 

внешний

внутрен­

металл

слоя к общей тол­

режим

режим

 

слой

щине пленки

 

пленки

ний слой

 

 

 

 

I

II

1

2,22

2,22

3,3 — /

2,3

Один слой

1989

2077

2

2,14

2,21

3,3 -

i

2,26

0,56

2050

2135

3

2,14

2,21

3,3 -

/

2,26

0,5

2038

2133

') Предварительное анодирование

в опыте 1

проводилось в разбавленной H*S04, в

опытах 2 и 3 в Н3РО4 при 10 мА/см2 и 1

мА/см2 соответственно.

при 9,5 мкА/сма до 115,85 В

2) Р е ж и м I: анодирование при 10

мА/см2 до

136 В, затем

(А=300,16°; ф=41,60°). Р еж и м II: анодирование при 9,5 мкА/см2 до 115,85 В (Д=280,28°; ф=32,75°).

очень малых плотностях тока требует слишком большого вре­ мени. Рассматриваемые явления не были обнаружены в опытах с разбавленной H2SO4 [35], но, как видно из табл. 1, их можно было наблюдать в случае разбавленной Н3РО4.)*

*) См. разд. Щ, 10 настоящей статьд. — Прим, перед,

4. МГНОВЕННЫЕ ЗНАЧЕНИЯ ИОННОЙ ПРОВОДИМОСТИ: НЕСТАЦИОНАРНЫЕ ПРОЦЕССЫ

Различие между пленками, полученными при разных плот­ ностях тока, наиболее ярко проявляется при изучении переход­ ных характеристик ионного тока на повторяющихся импульсах

Фиг . 3. Зависимость отношения R мгновенных значений ионного тока при повторном включении поля к плотности стационарного тока при том же поле от времени выдержки образца t (в секундах) при отсутствии поля.

Параметром кривых является начальная плотность ионного тока /о*, температура Г = 0° С (40].

электрического поля. Плотность тока, протекающего сразу по­ сле произвольного скачка напряженности поля, приблизительно пропорциональна плотности тока, протекавшего непосредственно перед этим [39, 40]. Если после выращивания пленки при по­ стоянной плотности тока /, а следовательно, при постоянной на­ пряженности поля Е, к пленке в течение времени t не прикла­

дывать поля, а затем снова приложить первоначальное поле, то амплитуда плотности ионного тока Г будет уменьшаться со вре­ менем t [41, 42] (в координатах Г — 1g t по нелинейному закону). Если считать, что J ~ ехр (— tlx) , то спад ионного тока можно

описать в терминах суперпозиции нескольких постоянных вре­

мени т (фиг. 3). Емкость и диэлектрические потери также умень­ шаются после выключения поля [43]. Процесс спада термически

активированный. По-видимому, этот спад вызывается рекомби­ нацией дефектов Френкеля (ионов в междоузлиях и вакансий), хотя не исключена возможность каких-либо структурных изме­ нений в пленках.

I Ф и г. 4. Переходные процессы при постоянном поле: зависимость плотности тока / (в А/см2) от времени t.

АОП сначала

формировались при напряжении 100 В течение 3—5 ч до толщины 2040 А

и отжигались в

кипящей воде в течение 5 мин. Затем после различных предварительных

обработок при

0ЭС к пленкам прикладывалось напряжение

130,9 В. Кривые /, 2 —после

отжига напряжение не прикладывалось: 3—5 после отжнга

прикладывалось напряжение:

115,3 В в течение 1 мин (кривая 3), 115,3 В в течение 5 мни (кривая 4) и 94,9 В в течение

15 мин (кривая 5).

(Указанные предварительные обработки не вызывали ощутимого изменения толщины АОП.)

Аналогичные эффекты в окискых пленках ниобия, сформи­ рованных в комбинированном режиме постоянного и перемен­ ного токов, наблюдал Луковцев [44]. С рассмотренными явле­ ниями связан также тот факт, что при увеличении тока от одного постоянного значения до другого поле проходит через максимум. Дюальд [45] показал, что «избыточное» поле (пре­ вышающее стационарное значение) достигается после прохож­ дения определенного заряда и не зависит от толщины пленки. При уменьшении тока поле проходит через минимум. Эти эф­ фекты можно качественно объяснить, есди предположить, что

Источник: https://studfile.net/preview/19992809/

Смотрите также: