Материал: Управление электронно-лучевой сваркой

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

Остальные коэффициенты равны нулю.

Ток вторичной эмиссии, представленный рядом Фурье, будет иметь вид

+ ^ sin а + а2cos 2а + sin За + а4cos 4а,

(2.23)

где коэффициенты ат, Ътопределяются выражениями (2.18)...(2.22). Анализ выражений (2.18). ..(2.23) свидетельствует о том, что при

сканировании лучом стыка в спектре сигнала датчика присутствуют составляющие, амплитуды которых зависят от величины рассогласова­ ния положения стыка в0, а частоты пропорциональны а = CDJ/.

Спектральный состав сигнала ДВЭ изображен на рис. 2.2. При этом амплитуды Ъ\ и Ь3при е0 = О равны нулю.

Рис. 2.2. Спектральный состав сигнала ДВЭ

При СО! * 0, Ш2 = Сйз = 0

Рассмотрим случай, соответствующий наличию гармонической составляющей в токе сканирующего пучка электронов. Для этого в выражение (2.17) подставим ток пучка в виде (2.8). Тогда

1Л . 4 \1

----r em Sin a JJ a 4 *

'l

ю з __ i_

4

1

 

о

n0 <J "’ 60

4CT4 E0+i ?

 

7

1

103

1

4 . 1

z l

m

 

60 ’

T T £o +

V

е»)

_ U

4a

 

|~=Геи»ео - • ^ e m e o js in a - s m y + ^ je J , ~ ^~ T e»eo jsin2ai

.

1 2

*3

e l sin4a-siny

(2.24)

xsrny —

j-8^6о sin

a -sin y -

CT

 

 

4 a 4

 

Если принять (D3 » О), то суммирование по т может произво­ диться и для значений т < О при ограничении |—wtoil < ю3. С учетом этого ток коллектора может быть представлен тригонометрическим рядом Фурье от двух переменных:

1%(а »Y) =

+ i\)i sin у +

sin а + О]! cos(y + а) + ап cos(y - а) +

 

2

 

 

+а20 cos2а + AJJ sin(y+ 2а) + 631 sin(y- 2а) + а31 cos(y+ За) +

+а_з1cosfy-За)+а4оcos4a+A4I sin(y+4a)+A_4isin(y- 4а), (2.25)

где

 

 

 

 

%> = ~ у

| J/K(a,y)rfafify = ^ - a 0;

 

 

п

 

*01 = тг—J

K(a,Y)siny<farfy = ^ у - а 0;

 

К - Я

 

 

ТС

ТС

 

 

*10 = ~ 2' J

J /к(«»Y)sin OLdbufy= -^ -* 1;

1

ТС ТС

 

J

 

а\\ = —7 I

JАс(а >У)cos(a+ y)dadf=

2/„

А|;

 

 

 

 

 

 

|

ТС

ТС

 

 

 

в_п = —

J

J /K(a,y)co s(Y -a)darfy = - o n ;

2я - * - «

 

 

 

а2о = т

1

тс

тс

J

 

 

т

J

J4 (а , у) cosla d a d f = - ^ - а 2;

2^

-тс-тс

■*п

 

* 2 1 = г т

/

J/ к(“ »у )sin(у + 2

а )

а 2;

2я _я -я

 

 

2/п

 

 

J

тс

я

 

 

 

*-21 = — г

\

J^K(a .Y)sin(y-2a)(fotrfir = 621;

2я -я -тс

 

 

 

a3i = ~ 2

J

f /к (а >у)c°s(y + 3a)<fa£fy =

2L

Аз;

2 * 1

 

 

 

 

|

Я

Jl

 

0-31 = ~ 2 \

J^K(oc>y)cos(Y - 3a)dadf = гх;

2лп

“ Я -71

 

b}o ~

"V f \L(a,y)sm 3adadY=^r-bi ;

64i = — т

f

f /* (а, у) sin(y + 4a)dad}/ =

о4;

J Я Я

6-4i = Т Т ! J / K(a ,y )s in (y - 4 a y a ^ = 64,.

Анализ выражения (2.25) с коэффициентами Фурье показывает, что спектральный состав сигнала датчика расширяется, причем появляются гармоники с боковыми частотами, являющиеся результатом амплитудной модуляции несущей на частоте со3 и огибающими с частотами соь 2соь 3coi и

Т.Д., При УСЛОВИИ, ЧТО СОз» С0|.

На рис. 2.3 представлен спектральный состав сигнала датчика. Анализ рассматриваемых случаев свидетельствует о том, что при

сканировании на выходе КВЭ возникает сигнал с детерминированным спектром, представленный составляющими, амплитуды которых зави­ сят от положения фокуса относительно поверхности свариваемых дета­ лей.

В математической модели датчика вторичной эмиссии присутст­ вует коэффициент вторичной эмиссии ф(х). Рассмотрим его математи­ ческое выражение для стыков различного типа. Представим коэффици­ ент вторичной эмиссии в виде

ф(дс) = к<рм(х)фс(х),

(2.26)

где К = (1 - QK) sin2 dj - sin2 a2; QK- коэффициент вторичной эмиссии материала коллектора [84]; а ь а 2 - половины телесных углов (рис. 2.1); фы(*) - коэффициент вторичной эмиссии материала свариваемых дета­ лей; срс(х) - коэффициент, зависящий от конструктивных особенностей соединения в стыке свариваемых деталей.

Вслучае стыкового соединения, изображенного на рис. 2.1,

АА

> дс > —

2

2

Ф с (*) =

отсюда

 

 

*Фм

А ^

А

----- £ х > — ,

 

2

2

о

— < х < —,

ф(*) =

2

2

 

 

где А - величина зазора в стыке.

/ к ( С 0 )

о

со, 1/с

8 $Д#$ЯЯ ? 8 f

U U U 3 0

^

3

3

3

3

3

3

Рис. 2.3. Спектральный состав сигнала датчика при Wi * О, w3 * 0, w2 = 0, а - Бо = 0,5 - е0 * О

Экспериментально установлена косинусоидальная зависимость тока вторичной эмиссии от угла между пучком электронов и нормалью к поверхности деталей [65]

q> (x) = cosa(*),

(2.27)

где а(х) - угол к нормали поверхности.

Поэтому если элементы поверхности свариваемых деталей име­ ют углы к нормали, то коэффициент эмиссии рассчитывается с учетом указанных углов.

Одной из конструктивных особенностей свариваемых соедине­ ний является наличие технологических буртов. Такие бурты, также как и зазоры и разделки кромок, относятся к элементам неоднородности поверхности. Их действие связано с затенением части поверхности КВЭ для электронов, вылетающих из области затенения. На рис. 2.4 изображена схема расчета коэффициента при наличии бурта.

Рис. 2.4. Схема расчета коэффициента <рс(х) при наличии бурта

В этом случае коэффициент рассчитывается по формуле

1;

 

 

 

 

0> х > ZR

 

 

2arccos—

- sinf 2arccos-^- ]

Zr

ZR

1—

 

RZ

{

RZ)

 

2тс(Л2 - г 2)

 

; —

<x< — ,

 

 

 

L

L

Ф с М =

 

arccos-^- - sinf 2arccos

 

 

 

 

 

RZ

{

 

 

 

 

 

2%{R2- r 2)

 

 

 

-r

.

2arccos— -sinf 2arccos

 

 

 

 

rZ

l

 

0 < x < — .

 

 

2я(Л2 - r 2)

 

 

L

2.2. Статические характеристики датчика

Полученные математические модели позволяют исследовать ха­ рактеристики вторично-эмиссионного датчика. Разработана программа для расчета характеристик датчика на ЭВМ [99].

Источник: https://studfile.net/preview/19992804/

Смотрите также: