Множитель r изменяется в пределах от 1 до 2 в зависимости от преобладающего механизма рассеяния, от степени вырождения носителей заряда, а также от величины магнитного поля. В слабых магнитных полях, если основным механизмом рассеяния носителей заряда являются тепловые колебания решетки, r = 3/8; при рассеянии на ионах примеси r = 315/512 = 1,93; в вырожденных полупроводниках и металлах r = 1. В сильных магнитных полях r = 1 независимо от механизма рассеяния. Если полупроводник имеет смешанную электропроводность, то в слабом магнитном поле коэффициент Холла
|
|
2 |
|
|
|
2 |
2 |
|
|
|
r p nв |
|
|
r |
|
|
|
||
R |
|
|
|
|
p p n n |
|
|||
|
|
|
. |
(2.6) |
|||||
е p nв 2 |
e |
( p p n n)2 |
|||||||
В случае собственного полупроводника n = p= ni и
R |
r |
1 в |
|
r |
|
p n |
. |
(2.7) |
||
|
|
|
|
|
||||||
en |
1 в |
en |
p n |
|||||||
|
|
|
|
|
||||||
|
i |
|
|
|
i |
|
|
|
|
|
Так как обычно в > 0, в собственном полупроводнике
R < 0. Полагая в (2.6) n >> p, получим для полупроводника n- типа
R |
r |
, |
(2.8) |
|
en |
||||
|
|
|
что с точностью до холл-фактора r совпадает с (2.4). При условии в (2.6) p >> n получим коэффициент Холла для полупроводника р-типа
R |
r |
. |
(2.9) |
|
|||
|
eр |
|
|
71
В сильном магнитном поле для полупроводника при наличии электронов и дырок коэффициент Холла выражается соотношением:
|
1 |
|
р в2 n в2 2 B2 ( p n) |
|
|
|
R |
|
p |
. |
(2.10) |
||
e |
( p вn)2 в2 2 B2 ( p n) |
|||||
|
|
|
|
p
При больших значениях В коэффициент Холла стремит-
ся к
1 |
|
R e( p n) . |
(2.11) |
Поскольку значение коэффициента Холла определяется такими параметрами полупроводникового материала, как концентрация и подвижность носителей заряда, эффект Холла является эффективным методом определения этих параметров.
Прежде чем описывать методы измерения эффекта Холла и способы параметров по этим измерениям, отметим ряд физических явлений, которые возникают совместно с эффектом Холла и вносят систематические ошибки при его измерении. К этим явлениям относятся: эффект Эттингсгаузена, поперечный эффект Нернста и эффект Риги-Ледука.
Эффект Эттингсгаузена возникает на помещенном в магнитном поле В образце, по которому в направлении, перпендикулярном В, протекает ток, и состоит в проявлении градиента температуры в направлении, перпендикулярном магнитному полю и току. Если, как и в случае эффекта Холла, вектор магнитной индукции направлен вдоль оси z, а электрический ток по оси х, то вдоль оси у возникает градиент температуры, пропорциональный магнитной индукции и электрическому току
72
Т |
КэВj , |
(2.12) |
у |
|
|
здесь Кэ –коэффициент Эттингсгаузена.
Физический эффект Эттингсгаузена обусловлен тем, что магнитное поле действует на «горячие» носители заряда с большей силой, чем на «холодные». Поэтому происходит пространственное разделение носителей по скорости. В результате обмена энергией носителей заряда с кристаллической решеткой возникает градиент температуры. Знак эффекта Эттингсгаузена не зависит от типа носителей заряда. Возникающая вследствие эффекта Эттингсгаузена термо-э.д.с. суммируется с холловским напряжением и не может быть отделена от него при изменении направления тока или магнитного поля.
Эффект Нернста аналогичен тепловому эффекту Холла. Если образец, по которому в направлении х проходит тепловой поток, поместить в магнитное поле В, направленное по оси z, то в направлении оси у возникает э.д.с. Эффект состоит в том, что при наличии градиента температуры потоку тепла соответствует преимущественное движение быстрых носителей заряда от горячего конца к холодному. Отклонение носителей заряда магнитным полем пропорционально их скорости. Поэтому в направлении «у» возникает поперечная э.д.с. и поперечный градиент температуры. Возникшая поперечная э.д.с. пропорциональна градиенту температуры и магнитной индукции
Е |
|
Кн В |
Т |
, |
(2.13) |
|
у |
х |
|||||
|
|
|
|
где Кн – коэффициент пропорциональности, называемый коэффициентом Нернста.
Поперечный градиент температуры Т / у , так же как и поперечная э.д.с., пропорционален Т / х и В
73
Т |
КрВ |
Т |
, |
(2.14) |
у |
|
х |
|
|
где Кр – коэффициент Риги-Ледука.
Таким образом, э.д.с. эффекта Нернста и термо-э.д.с. под влиянием эффекта Риги-Ледука возникают в том же направлении, что и эффект Холла, и складываются с ним. Градиент температуры Т / х , обусловливающий возникновение этих эффектов, как правило, существует на образце при проведении холловских измерений в результате протекания тока через контакты к образцу и выделения на них некоторого количества тепла. Знак градиента температуры, обусловленный эффектом Пельтье или нелинейностью вольтамперных характеристик токовых контактов, зависит от направления тока через образец. Значит, знаки эффектов Нернста и Риги-Ледука зависят от направления протекающего через образец тока.
Другой причиной существования градиента температуры Т / х может быть неравномерный нагрев образца при проведении температурных измерений или неоднородности образца. Относительная оценка величины этих эффектов показывает, что наиболее важным является эффект Эттингсгаузена, который для полупроводников может достигать 70 % от э.д.с. Холла. Другие эффекты менее существенны, и играют более важную роль в металлах.
2.2. Основные методы измерения эффекта Холла
Для измерения эффекта Холла применяются образцы самой различной формы (рис. 2.1). Для прямоугольного образца, который применяют чаще всего, с размерами а, в и d (соответственно по направлениям х, у и z) соотношение (2.3), выраженное через холловскую разность потенциалов Ux=Exв и ток I = jвd через образец, приобретает вид
Ux = R IB/d. |
(2.15) |
74
Если при измерении входящих в формулу (2.15) величин использовать единицы измерения Си (вольт, ампер, метр и тесла), то коэффициент Холла будет иметь размерность м3/Кл.
Рис. 2.1. Форма образцов, применяемых для измерения эффекта Холла
Таким образом, для определения коэффициента Холла R необходимо измерить четыре величины: холловскую разность потенциалов; ток, протекающий через образец; магнитную индукцию и геометрический размер образца d в направлении магнитного поля. Отношение длины образца «а» к его ширине «в» может оказывать существенное влияние на величину Ux. Но если образец достаточно длинный, т.е. а/в >> 1, можно считать, что токовые контакты не влияют на результаты измерений.
Согласно выражению (2.15) холловскую разность потенциалов Ux можно измерить, по крайней мере, четырьмя различными способами, используя постоянный и переменный ток, а также постоянное и переменное магнитное поле.
2.2.1. Метод постоянного магнитного поля и постоянного тока
Этот метод измерения эффекта Холла является самым простым и наиболее распространенным. От источника тока ИТ
75