Материал: Экспериментальные методы исследований. Калинин Ю.Е

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

23.Золотухин, И.В. Новые направления физического материаловедения [Текст] / И.В. Золотухин, Ю.Е. Калинин, О.В. Стогней. - Воронеж: ВГУ, 2000. – 360 с.

24.Эдельман, В.С. Сканирующая туннельная микроскопия [Текст] / В.С. Эдельман. // ПТЭ. -1989.- № 5. - С. 25-49.

25.Бинниг, Г. Сканирующая туннельная микроскопия – от рождения к юности [Текст] / Г. Бинниг, Г. Рорер // УФН. - 1988. - Т. 154. - Вып. 2. - С. 261-278.

26.Маслова, Н.С. Сканирующая туннельная микроскопия атомной структуры, электронных свойств и поверхностных химических реакций [Текст] / Н.С. Маслова, В.И. Панов //

УФН. - 1989. - Т. 157. - Вып. 1. - С. 185-195.

27.Сканирующая зондовая микроскопия биополимеров [Текст] / Под. ред. И.В. Яминского. - М.: Научный мир, 1997. - 88 с.

28.Вертхейм, Г. Эффект Мёссбауэра [Текст] / Г. Вертхейм. - М.: Мир, 1966. - 172 с.

29.Литвинов, В.С. Ядерная гамма-резонансная спектроскопия сплавов [Текст] / В.С. Литвинов, С.Д. Каракишев, В.В. Овчинников. - М.: Металлургия, 1982. - 144 с.

30.Физическая энциклопедия [Текст]. - М.: Большая Российская энциклопедия, 1992. Т. 3.

31.Блантер, М.С. Механическая спектроскопия металлических материалов [Текст] / М.С. Блантер, И.С. Головин, С.А. Головин, А.А. Ильин, В.И. Саррак. - М.: Изд-во “Международная инженерная академия”, 1994. - 254 с.

32.Дитчберн, Р. Физическая оптика [Текст] / Р Дитчберн. – М.: Наука, 1965. – 246 с.

33.Ландсберг, Г.С. Оптика [Текст] / Г.С. Ландсберг. – М.: Наука, 1976. – 178 с.

34.Кринчик, Г.С. Физика магнитных явлений [Текст] / Г.С. Кринчик. – М.: Изд-во МГУ, 1985. - 336 с.

35.Звездин, А.К. Магнитооптика магнитных пленок [Текст] / А.К. Звездин, В.А. Котов. – М.: Наука, 1988. – 186 с.

526

36.Писарев, Р.В. Физика магнитных диэлектриков [Текст] / Р.В. Писарев. - Л.: Наука, 1974. – 178 с.

37.Кринчик, Г.С. Магнитооптический эффект изменения электронной структуры ферромагнитного металла при повороте вектора намагниченности [Текст] / Г.С. Кринчик, В.С. Гущин // Письма в ЖЭТФ. - 1969. - № 10. - С. 35-39.

38.Кринчик, Г.С. Ориентационный магнитооптический эффект в монокристаллах никеля и кремнистого железа [Текст]

/Г.С. Кринчик, Е.А. Ганьшина, В.С. Гущин // ЖЭТФ. - 1971. -

Т. 60. - С. 209-219.

39.Быков, И.В. Магниторефрактивный эффект в гранулированных пленках с туннельным магнитосопротивлением [Текст] / И.В. Быков, Е.А. Ганьшина, А.Б. Грановский, В.С.

Гущин // ФТТ. - 2000. - Т.42. - С. 487 .

40.Малышев, В.И. Введение в спектральную спектроскопию [Текст] / В.И. Малышев. – М.: Наука, 1979. – 478 с.

41.Головин, Ю.И. Основы нанотехнологий [Текст] / Ю.И. Головин. – М.: Машиностроение, 2012. – 656 с.

42.Миронов, В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / В.Л. Миронов. – Нижний Новгород: РАН, Институт физики микроструктур, 2004. – 110 с.

43.Головин, Ю.И. Наноиндетирование и его возможности [Текст] / Ю.И. Головин. – М.: Машиностроение, 2009. – 312 с.

527

ОГЛАВЛЕНИЕ

 

Предисловие

3

Введение

4

ЧАСТЬ 1. МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ МАТЕРИА-

 

ЛОВ И КОМПОНЕНТОВ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ

11

1. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ

11

1.1. Основные понятия и единицы измерения

11

1.2. Измерение электрического сопротивления ме-

 

талов и резисторов

13

1.2.1. Метод вольтметра-амперметра

13

1.2.2. Метод непосредственной оценки

18

1.2.3. Электронные омметры

20

1.2.4. Измерительные мосты постоянного тока

23

1.2.5. Метод дискретного счета. Цифровые

 

приборы

28

1.3. Измерение электрической проводимости в

 

полупроводниках и диэлектриках

32

1.3.1. Подготовка образцов к измерениям

32

1.3.2. Методы получения омических контактов

34

1.3.3. Четырехзондовый метод измерения

42

1.3.4. Двухзондовый метод измерения

56

1.3.5. Однозондовый метод измерения распреде-

 

ления удельного электрического сопро-

 

тивления

58

1.3.6. Измерение электрической проводимости

 

пластин произвольной геометрической

 

формы

61

1.3.7. Высокочастотные бесконтактные методы

 

измерения удельного электрического

 

528

сопротивления

63

1.4.Определение ширины запрещенной зоны полупроводников по температурной зависи-

мости проводимости

66

2. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭФФЕКТА ХОЛЛА

69

2.1. Эффект Холла и сопутствующие ему явления

69

2.2. Основные методы измерения эффекта Холла

74

2.2.1. Метод постоянного магнитного поля и

 

постоянного тока

76

2.2.2. Метод переменного тока или переменного

 

магнитного поля

78

2.2.3. Метод переменного тока и переменного

 

магнитного поля

82

2.3. Определение параметров по измерениям тока

 

Холла

85

2.4. Определение параметров полупроводников

 

из измерений эффекта Холла

88

2.4.1. Определение концентрации донорных и

 

акцепторных примесей по измерению эф-

 

фекта Холла

88

2.4.2. Определение концентрации доноров и ак-

 

цепторов по температурной зависимости

 

подвижности

92

2.4.3. Ширина запрещенной зоны

94

3. ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ НЕРАВНОВЕСНЫХ

 

НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ

95

3.1. Основные параметры

95

3.2. Методы измерения дрейфовой подвижности

96

3.3. Определение коэффициента диффузии

103

3.4. Измерение диффузионной длины методом

 

529

подвижного светового зонда

107

3.5. Измерение времени жизни методом модуляции

 

проводимости точечным контактом

112

3.6. Определение параметров полупроводников пу-

 

тем измерения оптических и фотоэлектрических

 

свойств

117

3.6.1. Электронныепереходыифотопроводимость

117

3.6.2. Измерение стационарной фотопроводимости

123

3.6.3. Определение параметров полупроводни-

 

ков методом затухания фотопроводимости

125

3.6.4. Фазовый и частотный методы измерения

 

времени жизни

131

3.6.5. Измерение спектров поглощения

135

3.6.6. Определение параметров полупроводни-

 

ков из спектров поглощения

141

ЧАСТЬ II. МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ КОНСТ-

 

РУКЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ

147

4. МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ МЕХАНИЧЕСКИХ

 

СВОЙСТВ

147

4.1. Классификация и особенности механических

 

испытаний

147

4.2. Методы определения упругих свойств

153

4.3. Испытания на растяжение

157

4.4. Испытания на сжатие

168

4.5. Испытания на изгиб

173

4.6. Испытания на кручение

179

4.7. Испытания на замедленное разрушение

184

4.8. Испытания на ударную вязкость

185

4.9. Испытания на усталость

189

4.10. Испытания на жаропрочность

192

530

Источник: https://studfile.net/preview/16569699/