Численное значение коэффициента магнитострикции зависит от типа структуры, кристаллографического направления, напряженности магнитного поля и температуры. При этом линейная магнитострикция может быть как положительной, так и отрицательной, т.е. размеры образца в направлении поля при намагничивании могут как увеличиваться, так и уменьшаться. Относительную магнитострикционную деформацию, возникаю-щую в насыщающем магнитном поле, называют константой магнитост-
рикции S.
Для измерения магнитострикции применяют различные методы, основными из которых являются тензометрический, интерференционный, емкостный и др. Рассмотрим некоторые из них.
6.7.1. Тензометрический метод измерения магнитострикции
Тензометрический метод измерения магнитострикции основан на применении специальных датчиков, изменяющих величину электрического сопротивления при деформации. Проволочный тензометр изготовляют из тонкой проволоки диаметром 15—25 мк из материала, который имеет большое омическое сопротивление (нихром, константан и др.). Датчик может быть выполнен или в форме решетки с несколькими петлями, или в виде одной проволоки в зависимости от размеров и формы образца. При размерах решетки от 5 х 3 до 150 x 160 мм2 сопротивление датчика колеблется от 100 до 300 Ом. Для изготовления датчика берут полоску тонкой бумаги, на которую наклеивают проволоку в форме решетки. Для таких датчиков обычно применяют тонкую бумагу, обладающую хорошими изоляционными свойствами и легко проклеивающуюся. Клей, применяемый для изготовления тензометров, должен быть хорошим изолятором, при этом его свойства не должны изменяться со временем. Для этих целей применяется клей типа БФ, карбинальный клей с добавкой катализатора, целлюлозно-ацетоновый.